Fabrice Ducrest © UNIL
L’antenne romande de l’Institut suisse pour l’étude de l’art (SIK|ISEA) sise à l’UNIL n’ayant pas de laboratoire d’analyse, c’est aux restaurateurs de la maison mère à Zurich que l’équipe responsable des globes fait appel. À l’automne 2014, Margaux Genton, assistante restauratrice, vient à Lausanne pour un premier examen sur place. Ayant déjà restauré un globe céleste du XVIIe siècle, elle combine à la fois l’expérience et les connaissances nécessaires à ce type de mandat.
D’un commun accord, il est décidé que les globes doivent partir pour les laboratoires de Zurich afin d’y subir des analyses complémentaires (dont un C14 de la sphère céleste avec une nouvelle méthode non-invasive) et d’y être ensuite nettoyés et consolidés en vue de leur conservation et de leur exposition. Ce déplacement a lieu le 10 novembre 2014.
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© Micheline Cosinschi, UNIL
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© Micheline Cosinschi, UNIL
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© Micheline Cosinschi, UNIL
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© Micheline Cosinschi, UNIL
Les tâches suivantes sont confiées à SIK|ISEA :
- l’évaluation des différentes analyses déjà effectuées,
- la synthèse de l’information,
- l’enrichissement des connaissances sur la matérialité et la construction des globes par différentes méthodes d’observation et d’analyse,
- l’évaluation de leur état de conservation,
- leur conservation et leur restauration.
Afin de remplir ce mandat, SIK|ISEA utilise de nouvelles méthodes d’observation et d’analyse énumérées ci-dessous.
| Méthodes |
Paramètres |
| Observations visuelles |
Lumière visible et lumière rasante |
| Loupe binoculaire |
Technoskope Zeiss, grossissement 4x–105x |
| Fluorescence ultraviolette (UVF) |
Source de rayonnement : (lumière noire 320–400 nm) Dr Hönle, uvahand 250 / UVASpot 400T
Appareil photo : Nikon D 600 modifié pour le domaine spectral 350–1100 Nm
Filtres : Filtre de neutralisation-IR NG Makario (Bandpass 400–700 nm) + Kodak Wratten E2 (Longpass 420 nm) |
| Réflectographie infrarouge (IR) |
Source de rayonnement : lampes halogènes à intensité variable
Appareil photo : Nikon D 600 modifié pour le domaine spectral 350–1100 nm
Filtre : Longpass 700 nm / 830 nm |
| Radiographie aux rayons X |
Appareil : Gilardoni (Art-Gil, 5 mA)
Films : Agfa Strukturix D4 DW |
| Spectroscopie infrarouge à transformée de Fourier (IRTF) |
Perkin Elmer System 2000 avec microscope IR/vis (Perkin Elmer i-series)
Préparation au cylindre d’acier sur diamant CVD |
| Spectroscopie Raman |
Renishaw inVia Raman Microscope (01/2007)
Laser 785 nm (Diode) : Renishaw HP NIR785 (300 mW)
Laser 633 nm (Gaz) : Renishaw HeNe 633 (17 mW)
Laser 514 nm (Gaz) : Spectra-Physics Ar ion laser (24 mW) |
| « Direct Temperature » – Spectrométrie de masse (DT-MS) |
DSQ II-Thermoelectron-Instrument
Vitesse de chauffe : 10° C/s (jusqu’à 1000° C)
EI 16 eV.
Quadrupole Mass Spectrometer.
Zone de mesure : 45–1050 m/z |
| Coupes stratigraphiques |
Résine : CEM 4000 Lightfix, solidification à la lumière bleue
Tronçage à sec
Polissage Micromesh (jusqu’à 12000 = P1400 = 2–6 ?m granulosité)
Microscope Zeiss AXIO Scope A1, différents modes d‘éclairage |
| Microscope à balayage électronique (MEB) avec pression variable (VP-SEM) |
Analyse dispersive en énergie système Zeiss EVO MA 10 (2014)
Mode à vide élevé 10e-5 Pa, mode à vide bas 10-400 Pa
Echantillonage en 5 axes
Détecteur d’électron secondaires (SE)
Détecteur en 5 segments (LM 5SBSD)
3DSM Software module pour la modélisation 3D des surfaces |
| Analyse dispersive en énergie système spectroscopie aux rayons X (EDS) pour l’analyse élémentaire |
Système Thermo NORAN 7 (2014)
Détecteur Peltier (SDD, UtraDry), 30 mm2 de surface de détection
Résolution spectrale Mn Ka 129 eV
COMPASS & X-Phase Software Module |
